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MPI TS2000-SE 適用於多種晶圓量測應用領域,為工程用點測市場中第一台針對簡化量測複雜性而設計的 200 mm 自動探針台;旨在彌平芯片研發人員的儀器/機件整合困難、增進量測效率並減少操作不當的機率與出錯成本,以回歸、專注於芯片研發的本質。當中的創新包括:STM 安全測試管理系統能有效防止並因應測試環境計畫外之改變,例如禁止測試中機台外罩/門被開啟之機制、智慧 Dew Point 監控以防止低溫測試時的水氣凝結、以及自動偵測壓縮乾燥空氣/氮氣流,在氣流中斷/不足時自動將晶圓吸盤調節至 60℃ 安全模式,皆能保護操作者、量測結果、點測器具(如探針)、和待測物之安全免於受損。搭配全自動單晶片上片系統,由於不需先對測試環境進行升溫或冷卻,方便用戶在任何測試溫度下進行上/下片動作,大幅減少等待時間、提升量測效率;機台的硬體整合控制面板、高低溫晶圓吸盤控制整合則提供操作者單站集合式、直覺式的操作,用戶無須再受制於有限的空間限制、得在設備間穿梭才能設定測試設備。此外,業界首創的多點觸控探針台控制軟體 SENTIO®,則提供了直覺且簡化的量測操作介面與流程機制,能預先設定並保護量測流程,預防性地屏除了量測失敗的人因風險與出錯成本。
關於 旺矽科技股份有限公司
旺矽科技股份有限公司創立於1995年7月,以客戶導向的核心經營理念、不斷開發最新科技及尖端製造技術,提供客戶最佳產品及服務,產品跨越多領域產業,主要產品市場包括探針卡測試方案、LED及光電測試解決方案、高低溫測試系統、先進半導體測試解決方案等,服務的產業包括半導體、材料研究、航太(航天)、汽車、光學纖維、電子零組件…等。旺矽科技以提升客戶競爭力為主要目標,在技術上不斷研發創新,提供客戶最佳測試解決方案,以創造客戶價值為我們的職志。
旺矽 Advanced Semiconductor Test 先進半導體測試事業群立基於旺矽 Probe Card 探針卡事業群與 Photonics Automation 光電產品生產設備事業群之世界領導技術,由累積數十載量測市場與應用經驗的專業團隊領導,結合優異的生產能力以及客戶導向的理念,提出諸多領先且獨具一格的創新概念,為晶圓級半導體測試提供最佳的量測解決方案。
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