面板電性缺陷檢查設備
KLP-6060
本產品『面板電性缺陷檢查設備』,係利用電荷感應方法接觸型檢測TFT電晶體,經由Probe Unit探針量測獲得所需之電氣、光特性參數值及圖示,自動化量測TFT測試元件上的電氣特性其每個像素的電特性檢查和整個顯示區域的外圍電路的檢查,以及光學檢查輸入的驅動信號的質量(點,線缺陷,不均勻性)。
產品特色與創新技術
(1) Probe Head 全軸馬達化Auto Recipe Teaching Function技術(專利I605258)。
(2) 自動位置補正系統自動探針定位(專利I614549)。
(3) 探針卡線上調針維修系統及設計(專利I652484)。
(4) Heat Blow溫度補償控制系統保證加熱溫度之穩定性。
(5) 主動式及時背景降噪技術(專利I679433)。
(6) 萬用型的承載台設計(Universal Inspection Table),可快速的產品切換程式自動化與伴隨的全域自動遮蔽設計。
(7) 萬用型的探針座設計(Universal Probe Table) ,可快速的切換不同測試區的測試區(By Recipe)程式自動化。
為確保功能正常,且讓您有最好的使用體驗,請將您的螢幕旋轉為直向,謝謝!